pk10

     服务热线:

010-58237766

中文  |   English

地址:北京市朝阳区酒仙桥东路9号A2-西七层

电话:010-58237766

官方微博

关于我们       解决方案       产品中心       技术中心       新闻资讯       诚聘英才       联系我们

手机网站

北京燕京电子有限公司  北京赛车 pk10直播www.histudiosunday.com版权所有    京ICP备18021011号      网站建设:中企动力  北京

邮箱:sales@beijingec.com 

官方微信

搜索

热门关键词: 电子测量  生物微流控  等离子表面处理设备   薄膜分析设备  单细胞操纵分析    生物微流控

在线客服
客服热线
010-58237766
客服组:
售后
QQ:
售后服务
客服组:
在线客服
QQ:
产品咨询
QQ:
产品报价
服务时间:
8:00 - 24:00

SR100 薄膜分析仪

数量
-
+
库存
0
没有此类产品
产品描述
图片
简介
规格参数
功能图解
应用系统
相关产品

  图片:

  

 

  简介:

  SR系列薄膜分析产品来自美国AST公司,其可以实现薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测量,为人们针对薄膜进行分析提供了极大便利。

 

  产品详情:

基本功能

1,测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数
2,实现薄膜均匀性检测
3,实现反射、投射以及颜色测量

产品特点

  强大的数据运算处理功能及材料NK数据库;
  简便、易行的可视化测试界面,可根据用户需求设置不同的参数;
  快捷、准确、稳定的参数测试;
  支持多功能配件集成以及定制;
  支持不同水平的用户控制模式;
  支持多功能模拟计算等等。

系统配置

  型号:SR100R
  探测器: 2048像素的CCD线阵列
  光源:高稳定性、长寿命的卤素灯
  光传送方式:光纤
  台架平台:特殊处理铝合金,能够很容易的调节样品重量,200mmx200mm的大小
  软件: TFProbe 2.2版本的软件
  通讯接口:USB的通讯接口与计算机相连
  测量类型:薄膜厚度,反射光谱,折射率
  电脑硬件要求:P3以上、最低50 MB的空间
  电源:110–240V AC/50-60Hz,1.5A
  保修:一年的整机及零备件保修

 

  规格参数:

  波长范围:250nm到1100 nm
  光斑尺寸:500μm至5mm
  样品尺寸:200mmx200mm或直径为200mm
  基板尺寸:最多可至50毫米厚
  测量厚度范围*:2nm~50μm
  测量时间:最快2毫秒
  精确度*:优于0.5%(通过使用相同的光学常数,让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较)
  重复性误差*:小于1 

可选配件项

  用于传递和吸收测量的传动夹具(SR100RT) )
  最低可测量直径为5μm大小的微光斑(MSP100)
  在多个位置下,多个通道用于同时测量 (SR100xX)
  在超过200或300毫米晶片上所进行的统一测绘(SRM100-200/300)

 

  应用系统:

  主要应用于透光薄膜分析类领域:

  1 玻璃镀膜领域(LowE、太阳能…)

  2 半导体制造(PR,Oxide, Nitride…)

  3 液晶显示(ITO,PR,Cell gap...)

  4 医学,生物薄膜及材料领域等

  5 油墨,矿物学,颜料,调色剂等

  6 医药,中间设备

  7 光学涂层,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

  8 半导体化合物

  9 在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜

  10 非晶体,纳米材料和结晶硅

未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加

  图片:

  

  简介:

  SR系列薄膜分析产品来自美国AST公司,其可以实现薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测量,为人们针对薄膜进行分析提供了极大便利。

 

  产品详情:

基本功能

1,测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数
2,实现薄膜均匀性检测
3,实现反射、投射以及颜色测量

产品特点

  强大的数据运算处理功能及材料NK数据库;
  简便、易行的可视化测试界面,可根据用户需求设置不同的参数;
  快捷、准确、稳定的参数测试;
  支持多功能配件集成以及定制;
  支持不同水平的用户控制模式;
  支持多功能模拟计算等等。

系统配置

  型号:SR100R
  探测器: 2048像素的CCD线阵列
  光源:高稳定性、长寿命的卤素灯
  光传送方式:光纤
  台架平台:特殊处理铝合金,能够很容易的调节样品重量,200mmx200mm的大小
  软件: TFProbe 2.2版本的软件
  通讯接口:USB的通讯接口与计算机相连
  测量类型:薄膜厚度,反射光谱,折射率
  电脑硬件要求:P3以上、最低50 MB的空间
  电源:110–240V AC/50-60Hz,1.5A
  保修:一年的整机及零备件保修

  规格参数:

  波长范围:250nm到1100 nm
  光斑尺寸:500μm至5mm
  样品尺寸:200mmx200mm或直径为200mm
  基板尺寸:最多可至50毫米厚
  测量厚度范围*:2nm~50μm
  测量时间:最快2毫秒
  精确度*:优于0.5%(通过使用相同的光学常数,让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较)
  重复性误差*:小于1 

可选配件项

  用于传递和吸收测量的传动夹具(SR100RT) )
  最低可测量直径为5μm大小的微光斑(MSP100)
  在多个位置下,多个通道用于同时测量 (SR100xX)
  在超过200或300毫米晶片上所进行的统一测绘(SRM100-200/300)

  应用系统:

  主要应用于透光薄膜分析类领域:

  1 玻璃镀膜领域(LowE、太阳能…)

  2 半导体制造(PR,Oxide, Nitride…)

  3 液晶显示(ITO,PR,Cell gap...)

  4 医学,生物薄膜及材料领域等

  5 油墨,矿物学,颜料,调色剂等

  6 医药,中间设备

  7 光学涂层,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

  8 半导体化合物

  9 在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜

  10 非晶体,纳米材料和结晶硅

暂未实现,敬请期待
暂未实现,敬请期待

产品中心

友情链接:pk10开奖  pk10开奖  pk10  pk10开奖直播  pk10直播  

免责声明: 本站资料及图片来源互联网文章,本网不承担任何由内容信息所引起的争议和法律责任。所有作品版权归原创作者所有,与本站立场无关,如用户分享不慎侵犯了您的权益,请联系我们告知,我们将做删除处理!